- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 21/88 - Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
Détention brevets de la classe G01N 21/88
Brevets de cette classe: 5788
Historique des publications depuis 10 ans
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486
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525
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622
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650
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630
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601
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539
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208
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| 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| KLA-Tencor Corporation | 2574 |
283 |
| KLA Corporation | 1223 |
194 |
| FUJIFILM Corporation | 27102 |
86 |
| Hitachi High-Tech Corporation | 4424 |
81 |
| Omron Corporation | 6968 |
75 |
| ASML Netherlands B.V. | 6816 |
70 |
| The Boeing Company | 19843 |
66 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 131630 |
60 |
| Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | 27812 |
56 |
| NEC Corporation | 32703 |
52 |
| Koh Young Technology Inc. | 332 |
49 |
| LG Energy Solution, Ltd. | 10813 |
36 |
| Canon Inc. | 36841 |
35 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 36809 |
35 |
| Boe Technology Group Co., Ltd. | 35384 |
34 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 549 |
33 |
| General Electric Company | 18133 |
31 |
| KEYENCE Corporation | 372 |
31 |
| Screen Holdings Co., Ltd. | 2431 |
31 |
| Tokyo Electron Limited | 11599 |
28 |
| Autres propriétaires | 4422 |